通訊變壓器測試系統(tǒng) 
                
            
            
            
            
            如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
            
                產(chǎn)品名稱: 通訊變壓器測試系統(tǒng)  
            
            
                產(chǎn)品型號(hào): A132501 變壓器自動(dòng)掃描測試盒
            
                產(chǎn)品展商: Chroma
            
            
            
            
                產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
            
            
            
            
                簡單介紹
            
            
                具通訊變壓器檢測所需之各項(xiàng)量測功能
測試頻率20Hz~1MHz,**度0.02%
基本量測準(zhǔn)確度0.1%
三種阻抗輸出模式選擇,量測結(jié)果與各家知名廠牌之LCR表完全比對
增強(qiáng)式圈數(shù)比(Turn Ratio)準(zhǔn)確量測,適用于低磁導(dǎo)率之磁心
高速電感量/圈數(shù)比量測,*快80次/秒
高速DCR量測,*快50次/秒
1320直流重疊電流源直接控制功能
大型LCD顯示(320x240點(diǎn)矩陣)
            
            
                通訊變壓器測試系統(tǒng) 
                 的詳細(xì)介紹
            
        
            
	產(chǎn)品特色 
	- 
		具通訊變壓器檢測所需之各項(xiàng)量測功能 
	
 
	- 
		測試頻率20Hz~1MHz,**度0.02% 
	
 
	- 
		基本量測準(zhǔn)確度0.1% 
	
 
	- 
		三種阻抗輸出模式選擇,量測結(jié)果與各家知名廠牌之LCR表完全比對 
	
 
	- 
		增強(qiáng)式圈數(shù)比(Turn Ratio)準(zhǔn)確量測,適用于低磁導(dǎo)率之磁心 
	
 
	- 
		高速電感量/圈數(shù)比量測,*快80次/秒 
	
 
	- 
		高速DCR量測,*快50次/秒 
	
 
	- 
		1320直流重疊電流源直接控制功能 
	
 
	- 
		大型LCD顯示(320x240點(diǎn)矩陣) 
	
 
	- 
		提供各式標(biāo)準(zhǔn)測試治具及特殊治具訂制 
	
 
	- 
		四端測試治具,可得到DCR,電感量和圈數(shù)比之**且穩(wěn)定之量測 
	
 
	- 
		內(nèi)建式比較器;10級(jí)分類(BIN SORTING)及計(jì)數(shù)功能 
	
 
	- 
		4M SRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)數(shù)據(jù)設(shè)定及備份 
	
 
	- 
		標(biāo)準(zhǔn)RS232,HANDLER,PRINTER接口,支持LCR功能GPIB接口(選購) 
	
 
	- 
		15 組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫 
	
 
 
	3312變壓器測試系統(tǒng),為一提供通訊變壓器生產(chǎn)或品管進(jìn)出料檢驗(yàn),具有高穩(wěn)定度及高可靠度之精密量測儀器。 
	3312提供20Hz-1MHz測試頻率。在通訊變壓器掃瞄測試功能之外提供LCR Meter功能。在通訊變壓器掃瞄測試項(xiàng)目上,涵蓋各式通訊變壓器之低壓測量參數(shù)。包括反射損失(RLOS)、反射阻抗(Zr)、插入損失(ILOS)、頻率響應(yīng)(FR)、縱向平衡(LBAL)等通訊規(guī)格測試項(xiàng) ; 電感量,漏感量,圈數(shù)比,直流電阻,阻抗,線圈間容量等一般變壓器之測量主參數(shù) ; 質(zhì)量因素,串聯(lián)等效電阻等一般變壓器之測量副參數(shù),以及出腳短路檢查等。高速數(shù)字取樣技術(shù)及掃描測試治具(A132501)設(shè)計(jì),使以往費(fèi)時(shí)低效率的通訊變壓器生產(chǎn)檢驗(yàn)變得**又快速。 
	3312更提供多種輸出阻抗模式的選擇,使得測試儀器間因測試輸出阻抗差異造成測試電流不同而引起之量得電感量差異之問題得以解決。